Statische Tester
Erfassen Sie präzise jeden elektrischen Parameter unter Last, wie Kontaktprüfung, Durchlass- und Durchbruchspannungen, Leckströme mit Kompensation, RDS(on) / VCE(sat), Schwellenspannung und thermische Impedanz.
Wir unterstützen Leistungsdioden sowie Si-, SiC- und GaN-Module und decken alles ab – vom Chip bis zum fertigen Modul, mit eigenständigem oder In-Line-Handling.
Dynamische Tester
Doppelpulstests (RBSOA) und Kurzschlusstests (SCSOA) zur Prüfung von Schaltverhalten und Belastbarkeit von Si-, SiC- und GaN-Modulen. Unser dynamischer Tester bietet kundenspezifisch anpassbare Messtechnik und DC-Links. Der Tester ermöglicht Heiß- oder Kalttests im Labor oder vollständig integriert in der Produktion.
Inverter-Tester
Inverter-Testlösungen befinden sich derzeit in der Entwicklung.
Sprechen Sie frühzeitig mit uns über Ihre Anwendung, Zielparameter und Stückzahlen. Wir helfen Ihnen, den richtigen Ansatz zu definieren und halten Sie auf dem Laufenden, sobald der Inverter-Tester verfügbar ist.
Kundenspezifische Lösungen
Maßgeschneiderte Systeme für jedes Testverfahren. Wenn einer unserer Standardtester Ihre Anforderungen nicht erfüllt, konstruieren wir das System nach Ihrer Spezifikation, Ihren Parametern und Ihrem Durchsatz – für kontinuierliche Qualitätskontrolle unter extremen Bedingungen.
Planen Sie Ihren nächsten Halbleiter-Tester?
Sprechen Sie mit unseren Experten für eine professionelle Beratung.