Unsere hochpräzisen, flexiblen und individuellen Lösungen werden ganz auf Ihre Bedürfnisse und Anforderungen zugeschnitten.
Jedes individuelle System wird exakt nach Ihren Spezifikationen konstruiert. Zum Beispiel Zuverlässigkeitsprüfungen wie HTRB, HTGB, H3TRB, HTOL oder weitere Tests wie ZTH und Power Cycling.
ZTH-Tester
Thermische Impedanzmessung bei bis zu 150 A an Einzelbauelementen, Modulen und kundenspezifischen Aufbauten.
Zth und Zth-Schleife sowie der kompletten Parameter wie BVDSS, IDSS / DIDSS, IGSS / DIGSS, VGSTH, RDSON mit Kontaktprüfung.
HTRB- / HTGB-Tester
High-Temperature-Reverse-Bias- und Gate-Bias-Prüfung bei ± 6500 V und 200 °C.
Auf dem Bild ist eine All-in-One-Lösung für 4 DUTs zu sehen; für 20–100 DUTs kann ein separater Ofen eingesetzt werden. Die Anlage läuft 72 Stunden, unabhängig vom PC. Sie ist ausgerüstet mit Hochspannungsnetzteilen, Temperaturreglern, getrennter Heizung und Kühlung pro DUT sowie einem eigenen Sicherheitssystem.
HTOL-Tester
Hochtemperatur-Lebensdauerprüfung nach JEDEC-Standards über 100–1000 h.
Bis zu 80 DUTs in einer Heizkammer bei bis zu 260 °C, mit Hochleistungsnetzteilen, einem Oszilloskop, einem Multiplexer zur Spannungsmessung und Strombegrenzung pro DUT.
Tester für thermische Ermüdung
Belastungstest von Gleichrichterdioden mit Hochstrompulsen bis 200 A bei gleichzeitiger Überwachung der Durchlassspannung zur Bestimmung der Sperrschichttemperatur.
16 unabhängige Positionen laufen über 500 Stunden, mit programmierbaren Zyklusmustern und produktspezifischen Kontaktiereinheiten.
und viele mehr …
gemäß Ihren Anforderungen.
Diode
Z-Dioden / Hochspannungsdioden / ULLD / ARD ...
FET
Si / SiC / GaN
IGBT
Silizium (Si)
Brücken / Module
Halbbrücke, Vollbrücke und Gleichrichter
Die (KGD)
Si / SiC / GaN
Lifecycle services
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